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不饱和型 HAST 试验箱无冷凝抑制与温压湿耦合控制研究
摘要高压加速老化试验（HAST）广泛用于半导体封装、PCB线路、塑封器件的湿气可靠性验证，JESD22-A110标准区分饱和型与不饱和型HAST工况。不饱和HAST核心约束条件为腔内壁、样品表面严禁出现液态冷凝水，一旦凝露滴落
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GB/T2423.22 弧形面版快速温变试验箱内胆气流剥离结构与温变速率稳定研究
摘要快速温变试验是车载电控、半导体器件、连接器、PCB组件可靠性验证的核心手段，依据GB/T2423.22开展温度循环应力筛选。传统直角内胆快速温变箱在高升降速率工况下，容易出现气流贴壁边界层增厚、腔体拐角形成滞流